产品详情_TH521-02-20_半导体参数分析仪_耐压测试仪_直流电子负载_数字功率计_lcr电桥_常州高德娱乐电子股份有限公司

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TH521-02-20 半导体参数分析仪
性能特点

TH521 的常规特性

高达 3.5kV/1800A的宽广工作范围

-50 °C +250 °C 的全自动快速热测试

自动创建功率器件(半导体和元器件)的技术资料

自动记录功能可防止数据丢失

AI辅助编写python测试脚本


TH521 IV 套件特性

可对封装和晶圆上器件进行全自动快速 IV 测量 Ron、BV、泄漏、Vth、Vsat 等)

IV 脉冲宽度(最窄 10 μs)可防止器件自发热,更准确地测试器件实 际性能

示波器视图(时域视图)可以监测实际电压/电流脉冲波形,以便进行准 确测量

配置可以灵活扩展,添加 CV Qg,将电流范围从20 A扩展到 200A、 600 A 1800 A


TH521 套件的完整特性

IV 套件的全部特性

测量封装器件在 3.5 kV 时的晶体管输入、输出和反向传输电容 

Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres)以及栅极电阻(Rg

测量封装器件的栅极电荷(Qg)曲线

计算功率损耗(传导、驱动和开关损耗)

简介

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应用

半导体功率器件 

二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析

半导体材料 

晶圆切割、C-V特性分析

液晶材料 

弹性常数分析、液晶切割

电容元件 

电容器C-V特性测试及分析,电容式传感器测试分析

技术参数
附件
标配
配件名称型号
选配
配件名称型号
资料下载
资料名称下载链接
规格书 下载
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