TH521-02-20 半导体参数分析仪
性能特点
TH521 的常规特性
• 高达 3.5kV/1800A的宽广工作范围
• 从 -50 °C 到 +250 °C 的全自动快速热测试
• 自动创建功率器件（半导体和元器件）的技术资料
• 自动记录功能可防止数据丢失
• AI辅助编写python测试脚本
TH521 IV 套件特性
• 可对封装和晶圆上器件进行全自动快速 IV 测量 （Ron、BV、泄漏、Vth、Vsat 等）
• 窄 IV 脉冲宽度（最窄 10 μs）可防止器件自发热，更准确地测试器件实 际性能
• 示波器视图（时域视图）可以监测实际电压/电流脉冲波形，以便进行准 确测量
• 配置可以灵活扩展，添加 CV 和 Qg，将电流范围从20 A扩展到 200A、 600 A 或1800 A
TH521 套件的完整特性
• IV 套件的全部特性
• 测量封装器件在 3.5 kV 时的晶体管输入、输出和反向传输电容
（Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres）以及栅极电阻（Rg）
• 测量封装器件的栅极电荷（Qg）曲线
• 计算功率损耗（传导、驱动和开关损耗）
