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    半导体器件CV特性测试
    TH510系列
    TH511 半导体C-V特性分析仪

     一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

     单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

     四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

     标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

     CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

     电容快速充电技术,实现快速测试

     接触检查Cont

     通断测试OP_SH

     自动延时设置

     栅极电压VGS:0 - ±40V

     漏极电压VDS:0 - ±200V

     10档分选


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    TH512 半导体C-V特性分析仪

     一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

     单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

     四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

     标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

     CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

     电容快速充电技术,实现快速测试

     接触检查Cont

     通断测试OP_SH

     自动延时设置

     栅极电压VGS:0 - ±40V

     漏极电压VDS:0 - ±1500V

     10档分选


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    TH513 半导体C-V特性分析仪

     一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

     单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

     四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

     标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

     CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

     电容快速充电技术,实现快速测试

     接触检查Cont

     通断测试OP_SH

     自动延时设置

     栅极电压VGS:0 - ±40V

     漏极电压VDS:0 - ±3000V

     10档分选


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