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自动测试系统ATE
电源类自动测试系统
TH300-8 开关电源自动测试系统

 可扩充硬件架构,根据需求搭配单机

 八通道同时或四通道分组测试,通道数可扩充

 测试项目灵活编辑调取,定制化测试方案

 多层次权限管理和完善的信息管理功能

 各通道支持独立条形码或二维码读取功能 

 线上仪控功能

 测试程序管理和编辑功能 

 统计报表输出和编辑功能 

 提供系统日志,方便故障定位和操作人员相关信息查询。 

 可外接配套工装治具实现离线或自动化产线测试

 系统预留IO接口,无需额外硬件便可与自动化产线对接  

 图形化界面(Windows 2000/XP/7/10以上的作业环境)

 系统支持多种通讯接口(GPIB、USB、RS-232、LAN等)



 

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半导体类自动测试系统
TH300-OP 光耦光电特性测试解决方案

光耦光电特性解决方案

输入特性

输出特性

传输特性

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TH300-CV 功率器件CV特性解决方案

测量参数:Ciss、Coss、Crss、RgMOSFET

           Cies、Coes、Cres、RgIGBT

通道数:2-6

VGS范围:0-±40V

VDS范围:0 - ±200V/±1500V/±3000V

测试频率:1kHz-2MHz

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微弱信号类自动测试系统
TH300-Cur 多通道微电流测试解决方案

fA级-A级

一体化测试系统

单通道

多通道

扫描测试

并行测试



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TH300-Cap 多通道电容器漏电流测试解决方案

电解电容、钽电容、陶瓷电容漏电流

并行测试

订制通道

高精度

高速度

一体化

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元器件类自动测试系统

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