半导体类自动测试系统
功率器件CV特性自动系统
TH300-CV 功率器件CV特性解决方案
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测量参数：Ciss、Coss、Crss、Rg（MOSFET）
Cies、Coes、Cres、Rg（IGBT）
通道数：2-6
VGS范围：0-±40V
VDS范围：0 - ±200V/±1500V/±3000V
测试频率：1kHz-2MHz
光耦自动测试系统
