■ 测试频率：20Hz～2MHz，分辨率：10mHz步进
■ 基本精度：0.1%
■ 测量速度：200次/s
■ 压电陶瓷、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试
■ 具有多参数多频列表扫描功能
■ 测试电平10mV～5V， 1mV步进
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
- 简介
TH2826 系列元件测试仪是符合 LXI 标准的新一代阻抗测试仪器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，可测量低 ESR 电容器和高 Q 电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。
TH2826 系列产品是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超 高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等 等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。TH2826 系列产品 以其卓越的性能可以实现商业标准和军用标准如 IEC 和 MIL 标准的各种测试。
- 应用
■ 无源元件
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析
■ 半导体元件
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
■ 介质材料
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
■ 液晶单元
介电常数、弹性常数等C-V特性
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- 技术参数
测试参数
C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR
测试频率
TH2826A
20 Hz～2MHz,10mHz步进
测试信号电平
f≤1MHz
10mV～5V,±（10%+10mV）
f>1MHz
10mV～1V,±（20%+10mV)
输出阻抗
10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本准确度
0.1%
显示范围
L
0.0001 uH ～ 9.9999kH
C
0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR
0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G
0.0001 nS ～ 99.999 S
D
0.0001 ～ 9.9999
Q
0.0001 ～ 99999
θ
-179.99°～ 179.99°
测量速度
快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校准功能
开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准
等效方式
串联方式, 并联方式
量程方式
自动, 保持
显示方式
直读, Δ, Δ%
触发方式
内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏
电压模式
-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进
置源
电流模式（内阻为50Ω）
-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能
10档分选及计数功能
显示器
320×240点阵图形LCD显示
存储器
可保存20组仪器设定值
接口
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
GPIB（选件）